- CMOS集成电路闩锁效应
- 温德通编著
- 265字
- 2025-02-18 04:59:57
图书在版编目(CIP)数据
CMOS集成电路闩锁效应/温德通编著.—北京:机械工业出版社,2020.3
(IC工程师精英课堂)
ISBN 978-7-111-64587-0
Ⅰ.①C… Ⅱ.①温… Ⅲ.①CMOS电路-静电防护-电路设计 Ⅳ.①TN432.02
中国版本图书馆CIP数据核字(2020)第016442号
机械工业出版社(北京市百万庄大街22号 邮政编码100037)
策划编辑:吕 潇 责任编辑:吕 潇
责任校对:张 征 封面设计:马精明
责任印制:孙 炜
北京联兴盛业印刷股份有限公司印刷
2020年3月第1版第1次印刷
184mm×240mm·15.5 印张·351千字
0001—3500册
标准书号:ISBN 978-7-111-64587-0
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